| Обозначение | IEC 60749-38(2008) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 14.02.2008 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |