| Обозначение | ISO 23830:2008 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 05.11.2008 |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Код цены | B |
| Примечание | |
 |