| Обозначение | IEC 60747-5-3(2009) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные приборы. Методы измерения |
| Заглавие на английском языке | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods |
| МКС | 31.080.99 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-5-4(2006) в части, IEC 60747-5-5(2007) в части, IEC 60747-5-5(2007)/Amd.1(2013) в части, IEC 60747-5-5(2013) в части, IEC 60747-5-6(2016) в части, IEC 60747-5-7(2016) в части |
| Примечание | Объединенное издание содержит IEC 60747-5-3(1997), IEC 60747-5-3(1997)/Amd.1(2002) |
| Дата опубликования | 04.12.2009 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 90 |
| ТК – разработчик стандарта | SC 47E |
| Номер издания | 1.1 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |