| Обозначение | ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Полное обозначение | ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
| Дата введения в действие | 01.09.2010 |
| Дата огр. срока действия | |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код ОКП | |
| Код КГС | Т86.1 |
| Код ОКСТУ | |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения |
| Ключевые слова | нанокристаллы;тонкие пленки;межплоскостные расстояния в кристаллах;просвечивающий электронный микроскоп;методика выполнения измерений |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | |
| Вид стандарта | 1 - Основополагающие стандарты |
| Вид требований | |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, interplanar spacings, crystals, intensity, distributions, diffraction patterns, method, measurement, means, transmssion, electron microscope |
| Обозначение заменяемого(ых) | |
| Обозначение заменяющего | |
| Обозначение заменяемого в части | |
| Обозначение заменяющего в части | |
| Гармонизирован с: | |
| Аутентичный текст с ISO | |
| Аутентичный текст с IEC | |
| Аутентичный текст с ГОСТ | |
| Аутентичный текст с прочими | |
| Содержит требования: ISO | |
| Содержит требования: IEC | |
| Содержит требования: СЭВ | |
| Содержит требования: ГОСТ | |
| Содержит требования: прочими | |
| Нормативные ссылки на: ISO | |
| Нормативные ссылки на: IEC | |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.045-84 |
| Документ внесен организацией СНГ | |
| Нормативные ссылки на: Прочие | |
| Документ принят организацией СНГ | |
| Номер протокола | |
| Дата принятия в МГС | |
| Присоединившиеся страны | |
| Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Разработчик МНД | |
| Межгосударственный ТК | |
| Дата последнего издания | 01.04.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 16 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» |
| Статус | Действует |
| Код цены | 2 |
| На территории РФ пользоваться | |
| Отменен в части | |
| Номер ТК за которым закреплен документ | |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | |
 |