Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4563926.aspx

IEC 62132-2(2010)

Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62132-2(2010)
Заглавие на русском языкеИнтегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ
Заглавие на английском языкеIntegrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
МКС31.200
Вид стандартаST
Дата опубликования30.03.2010
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала54
ТК – разработчик стандарта SC 47A
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыF

Стандарт IEC 62132-2(2010) входит в рубрики классификатора: