Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4564254.aspx

AEC Q100 Rev D

Stress Test Qualification for Integrated Circuits

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

Краткое изложение (English)
ОбозначениеAEC Q100 Rev D
Статус
Заглавие на английском языкеStress Test Qualification for Integrated Circuits
Код КС (ОКС, МКС) 43.040.10
ЗаменяетAEC Q100 Rev C (1998-10-08)
Дата публикации2000-08-25
Описатели (English) Automobiles*Automotive engineering*Built-in units*Components*Conditions*Defects*Definitions*Electrical components*Electrical equipment*Electronic engineering*Electronic equipment*Electronic instruments*Electrotechnology*Error consideration*Fail*Integrated circuits*Motorcar industry*Reliability*Reliability testing*Sellers*Specification (approval)*Switching circuits*Testing*Testing conditions*Vehicles piece parts*Definition
Язык оригиналаen
Международные отношения
Заглавие на русском языке
Обозначение заменяющегоAEC Q100 Rev E (2001-01-31)

Стандарт AEC Q100 Rev D входит в рубрики классификатора: