| Обозначение | IEC 62417(2010) |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 22.04.2010 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |
 |