| Обозначение | IEC 62374-1(2010) |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 29.09.2010 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 36 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |