Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4576265.aspx

DIN EN 62418-2010

Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 62418-2010
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010
Дата опубликования01.12.2010
МКС25.220.40*31.080.01
Вид стандартаST
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала19
Перекрестные ссылки
Код ценыPreisgruppe 14

Стандарт DIN EN 62418-2010 входит в рубрики классификатора: