| Обозначение | ISO 14701:2011 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness |
| Дата отмены | 31.10.2018 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Обозначение заменяющего | ISO 14701:2018 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 02.08.2011 |
| Количество страниц оригинала | 17 |
| Количество страниц перевода | 23 |
| Код цены | C |
| Примечание | |
 |