| Обозначение | DIN EN 60749-29-2012 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011 |
| Дата опубликования | 01.01.2012 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-29(2004-07)*DIN EN 60749-29(2009-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 27 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 16 |
 |