| Обозначение | DIN EN 60749-40-2012 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011 |
| Дата опубликования | 01.02.2012 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-40(2009-06) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 23 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-37(2008-01) |
| Код цены | Preisgruppe 15 |
 |