Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5294190.aspx

DIN EN 62047-13-2012

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 62047-13-2012
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (IEC 62047-13:2012); German version EN 62047-13:2012
Дата опубликования01.10.2012
МКС31.080.01*31.220.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN IEC 62047-13(2010-05)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала17
Перекрестные ссылкиIEC 62047-2(2006-08)
Код ценыPreisgruppe 14

Стандарт DIN EN 62047-13-2012 входит в рубрики классификатора: