| Обозначение | ISO 11505:2012 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 8 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 12.12.2012 |
| Количество страниц оригинала | 38 |
| Код цены | E |
| Примечание | |
 |