ISO 22493:2014
Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
ISO 22493:2014
Статус
Действует
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
Код КС (ОКС, МКС)
01.040.37; 37.020
Обозначение заменяемого(ых)
ISO 22493:2008
ТК – разработчик стандарта
TC 202/SC 1
Язык оригинала
английский
Номер издания
2
Дата опубликования
09.04.2014
Количество страниц оригинала
28
Код цены
D
Примечание
Стандарт ISO 22493:2014 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ. ТЕРМИНОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ. ДОКУМЕНТАЦИЯ \ Словари * Стандарты, включенные в эту группу, следует также включать в другие группы и/или подгруппы в соответствии с их объектами \ Технология получения изображений (Словари) \
ОКС \ ТЕХНОЛОГИЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ \ Оптическое оборудование *Включая микроскопы, телескопы, бинокли, оптические материалы, оптические компоненты и оптические системы *Офтальмологическое оборудование см. 11.040.70 *Оптические измерительные приборы см. 17.180.30 *Линзы для фотографической аппаратуры см. 37.040.10 \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5350665.aspx