Обозначение | OVE/ONORM EN 62415:2011 01 01 |
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010) (german version) |
Код МКС | 31.080.01 |
Дата опубликования | 01.01.2011 |
Язык оригинала | немецкий |
 |