Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5374123.aspx

OVE/ONORM EN 62047-13:2012 11 01

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS

На немецком языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE/ONORM EN 62047-13:2012 11 01
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (IEC 62047-13:2012) (german version)
Код МКС31.080.99 31.080.01 31.220.01
Дата опубликования01.11.2012
Язык оригиналанемецкий