| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-10:2003 10 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.10.2003 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |