| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-19:2011 03 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010) (german version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.03.2011 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |