| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-2:2003 10 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.10.2003 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |