| Обозначение | IEC 60749-42(2014) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 12.08.2014 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |
 |