Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5883005.aspx

IEC 60191-6-3(2000)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-3. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров плоских корпусов с четырьмя копланарными выводами

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 60191-6-3(2000)
Заглавие на русском языкеСтандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-3. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров плоских корпусов с четырьмя копланарными выводами
Заглавие на английском языкеMechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-3. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
МКС31.080.01
Вид стандартаST
ПримечаниеДвуязычная версия
Дата опубликования01.09.2000
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала34
ТК – разработчик стандарта SC 47D
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыE

Стандарт IEC 60191-6-3(2000) входит в рубрики классификатора: