| Обозначение | DIN IEC 60444-2-1992 |
| Заглавие на английском языке | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2: phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units; identical with IEC 60444-2:1980 |
| Дата опубликования | 01.11.1992 |
| МКС | 31.140 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 45105-3(1978.01) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60444-2(1997.10) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60302*IEC 60444*IEC 60444-1 |
| Код цены | Preisgruppe 7 |
 |