Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6239390.aspx

DIN 50451-3-2014

Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания микроэлементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в сверхчистой азотной кислоте методом масс-спектрометрического анализа с индуктивно-связанной плазмой

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN 50451-3-2014
Заглавие на русском языкеИспытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания микроэлементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в сверхчистой азотной кислоте методом масс-спектрометрического анализа с индуктивно-связанной плазмой
Заглавие на английском языкеTesting of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS
Дата опубликования01.11.2014
МКС29.045
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN 50451-3(2003-04)*DIN 50451-3(2012-11)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала19
Перекрестные ссылкиDIN 32645(2008-11)*DIN 50451-5(2010-03)*DIN 51009(2013-11)*DIN EN ISO 1042(1999-08)*DIN EN ISO 1043-1(2012-03)*DIN EN ISO 8655-2(2002-12)*DIN EN ISO 14644-1(1999-07)*DIN EN ISO 17294-2(2005-02)*DIN ISO 3696(1991-06)*DIN ISO 5725-2(2002-12)*DIN ISO 5725-4(2003-01)*ASTM D 5127(2013)*VDI 2083 Blatt 1(2013-01)
Код ценыPreisgruppe 11

Стандарт DIN 50451-3-2014 входит в рубрики классификатора: