Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6252299.aspx

DIN 50450-1-1987

Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в газах-носителях и легирующих газах. Определение содержания воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелие при помощи ячейки с пентаоксидом фосфора

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN 50450-1-1987
Заглавие на русском языкеИспытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в газах-носителях и легирующих газах. Определение содержания воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелие при помощи ячейки с пентаоксидом фосфора
Заглавие на английском языкеTesting of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell
Дата опубликования01.08.1987
МКС71.100.20
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN 50450-1(1985-02)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала2
Перекрестные ссылкиDIN 1310(1984-02)*DIN ISO 6146(1983-04)*VDI 3490 Blatt 3(1980-12)
Код ценыPreisgruppe 5

Стандарт DIN 50450-1-1987 входит в рубрики классификатора: