Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6282138.aspx

DIN EN 62047-25-2017

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 62047-25-2017
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016); German version EN 62047-25:2016
Дата опубликования01.04.2017
МКС31.080.99*31.220.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN EN 62047-25(2014-05)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала23
Перекрестные ссылкиIEC 62047-1(2016-01)*ISO 10012(2003-04)
Код ценыPreisgruppe 15

Стандарт DIN EN 62047-25-2017 входит в рубрики классификатора: