| Обозначение | IEC 62979(2017) |
| Заглавие на русском языке | Модули фотоэлектрические. Возвратный диод. Испытание на термическую нестабильность |
| Заглавие на английском языке | Photovoltaic modules - Bypass diode - Thermal runaway test |
| МКС | 27.160 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 10.08.2017 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 82 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |