| Обозначение | IEC 60749-12(2017) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-12(2002), IEC 60749-12(2002)/Cor.1(2003) |
| Дата опубликования | 13.12.2017 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |
 |