| Обозначение | DIN EN 60749-3-2018 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017 |
| Дата опубликования | 01.01.2018 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-3(2003-04)*DIN EN 60749-3(2017-05) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-9(2017-03)*IEC 61340-5-1(2016-05)*IEC 62483(2013-09) |
| Код цены | Preisgruppe 12 |
 |