| Обозначение | DIN EN 60749-43-2018 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017); German version EN 60749-43:2017 |
| Дата опубликования | 01.05.2018 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-43(2013-10) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 40 |
| Перекрестные ссылки | AEC Q100(1994-06-09)*IECQ 01(2014-08)*IECQ 02(2013-05)*IECQ 03-1(2012-09)*IECQ 03-2(2013-02)*IECQ 03-3(2013-02)*IECQ 03-3-1(2013-02)*IECQ 03-3-2(2014-12)*IECQ 03-4(2014-09)*IECQ 03-5(2017-08)*IECQ 03-6(2012-09)*IECQ 03-7(2013-05)*IECQ 03-8(2015-06)*IEC 60068-2-1(2007-03)*IEC 60068-2-30(2005-08)*IEC 60749-5(2017-04)*IEC 60749-6(2017-03)*IEC 60749-11(2002-04)*IEC 60749-15(2010-10)*IEC 60749-20(2008-12)*IEC 60749-21(2011-04)*IEC 60749-23(2004-02)*IEC 60749-25(2003-07)*IEC 60749-26(2018-01)*IEC 60749-28(2017-03)*IEC 60749-29(2011-04)*IEC 60749-42(2014-08) |
| Код цены | Preisgruppe 19 |
 |