| Обозначение | ISO 17915:2018 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Методы измерения характеристик полупроводниковых лазеров для оптического зондирования |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Measurement method of semiconductor lasers for sensing |
| Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO/TS 17915:2013 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 25.05.2018 |
| Количество страниц оригинала | 36 |
| Аннотация (область применения) | В этом документе описаны способы измерения температурной и токовой зависимости длин волн излучения и ширины спектральной линии полупроводниковых лазеров для сенсорных применений.
Настоящий документ применим ко всем видам полупроводниковых лазеров, таких как лазеры с торцевым излучением, лазеры с вертикальным резонатором с поверхностным излучением, лазеры с объемными и напряженными квантовыми ямами и квантово-каскадные лазеры, используемые для оптического зондирования, например, в промышленности, медицине и сельском хозяйстве |
| Количество страниц перевода | 36 |
| Код цены | E |
| Примечание | |
 |