| Обозначение | IEC 60749-41(2020) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытания надежности энергонезависимых запоминающих устройств |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 22.07.2020 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 44 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |