| Обозначение | IEC 60749-30(2020) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-30(2005) |
| Дата опубликования | 17.08.2020 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |