Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6714465.aspx

BS ISO 23812:2009

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 23812:2009
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Количество страниц оригинала30