Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6716012.aspx

BS ISO 20341:2003

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 20341:2003
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Количество страниц оригинала14