PD ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
PD ISO/TR 22335:2007
Заглавие на английском языке
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Количество страниц оригинала
28
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6720809.aspx