Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6725462.aspx

BS ISO 12406:2010

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 12406:2010
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon
Количество страниц оригинала24