Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6731467.aspx

BS ISO 14701:2018 - TC

Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 14701:2018 - TC
Заглавие на английском языкеTracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Количество страниц оригинала54