Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6742217.aspx

BS ISO 24173:2009

Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 24173:2009
Заглавие на английском языкеMicrobeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Количество страниц оригинала54