Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6744539.aspx

BS ISO 22415:2019

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 22415:2019
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
Количество страниц оригинала38