Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6761217.aspx

BS ISO 14701:2018

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 14701:2018
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Количество страниц оригинала26