Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6769295.aspx

BS ISO 16531:2020

Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 16531:2020
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Количество страниц оригинала28