Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6771557.aspx

PD IEC/TR 63133:2017

Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеPD IEC/TR 63133:2017
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Количество страниц оригинала20