Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6784192.aspx

BS ISO 14237:2010

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 14237:2010
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Количество страниц оригинала30