Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6790465.aspx

BS ISO 14706:2014

Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 14706:2014
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Количество страниц оригинала36