BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
BS ISO 17470:2014
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Количество страниц оригинала
22
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6801191.aspx