Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6805253.aspx

BS ISO 17331:2004+A1:2010

Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 17331:2004+A1:2010
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Количество страниц оригинала28