Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6812419.aspx

BS ISO 14606:2015

Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 14606:2015
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Количество страниц оригинала28