Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6871041.aspx

KS D ISO 18114(2020 Confirm)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS D ISO 18114(2020 Confirm)
Международный стандартISO 18114:2003(IDT)
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Дата опубликования2005.12.28
Код МКС71.040.40

Стандарт KS D ISO 18114(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора: