KS C IEC TR 62878-2-7 | | | Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | KS C IEC TR 62878-2-7 | | Международный стандарт | IEC TR 62878-2-7:2019(IDT) | | Заглавие на английском языке | Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards | | Дата опубликования | 2021.07.26 | | Код МКС | 31.180,31.190 | |
|
|
Стандарт KS C IEC TR 62878-2-7 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
|